IC测试治具探头一般有多种标准。针主要由三部分组成：一部分是针管，主要用铜合金镀金；另一部分是弹簧，主要用钢琴丝和弹簧钢镀金；第三部分是针，主要用工具钢（SK）镀镍或镀金。上述三个部分组装成探针。
IC测试治具的探针主要在这里同享。此外，不同包装形式的探头的标准也不同。为了确保探头符合要求，有必要对符合要求的探头类型进行认证，确保实验顺利完成。探针是集成电路测试中的一个重要组成部分，因此，为了确保测试的性能，我们应该愈加注重探针的选择和购买。
但是普通的有机玻璃在钻孔的时候容易发生溶化和断钻头的情况，特点是钻孔孔径小于0.8毫米的，一般钻孔孔径小于1毫米时都选用环氧树脂板材，环氧树脂板材钻孔不容易断钻头其耐性及刚性都好，环氧树脂板没有胀缩所以假如钻孔孔径不准确会造成探针套管与孔之间很松动发生晃动。
环氧树脂板不透明假如治具具出现问题比较难查看，另外有机玻璃温差变形比环氧树脂板大一些，假如测验的密度十分高的需选用环氧树脂板。
有许多类型的测试治具其实是抑制化的，它可以帮忙工厂提高自身的生产能力，重复一些特定的动作，使得工厂的生产流程当中的工作愈加的准确，大大提高了产品的质量，削减了的误差。它一般可以帮忙手工艺制品进行定位，也经常用于产品功能，功率的教程以及寿命，功能等的测试。测试治具其实在工业时代之前就已经被广泛的使用了，它可以帮忙企业愈加明晰地了解到措施的具体成果。
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