即是IC测试治具的基础结构，顶上是IC芯片，中心是探针，通过准确定位探针能够很准确测触摸零点几的焊盘和锡球。
由于IC测试治具适用于功能性测试的，那么有很多特别的功能芯片，就需要不一样的规划，例如大电流，需要规划大电流探针或许大电流的触摸块；例如，高频，需要同轴连接器，或许说需要需要做好阻隔；又例如，数模转换芯片，需要做好数模地的切割，所以做治具的时分需要判断PCB的地切割状况来规划。
测试治具，压床式的测试治具，一般都会用到探针，所以在测试治具设计时，探针的挑选非常重要。治试治具的探针，现已做的标准化了，如大小、长度、高度、行程等，都有一系列的数值参数。所以我们要做的就像挑选螺丝一样，只能挑选探针的类型规格，而不能想当然的想要多少就要多少，想要哪类就要哪类。
一般来说，探针的类型，测试治具重要的是探针的直径大小。探针的大小用mil为单位的，此单位为英制的。单位的换算为100mil=2.54mm＝0.1in。
IC测试治具探头一般有多种标准。针主要由三部分组成：一部分是针管，主要用铜合金镀金；另一部分是弹簧，主要用钢琴丝和弹簧钢镀金；第三部分是针，主要用工具钢（SK）镀镍或镀金。上述三个部分组装成探针。
IC测试治具的探针主要在这里同享。此外，不同包装形式的探头的标准也不同。为了确保探头符合要求，有必要对符合要求的探头类型进行认证，确保实验顺利完成。探针是集成电路测试中的一个重要组成部分，因此，为了确保测试的性能，我们应该愈加注重探针的选择和购买。
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